2018
年3月14日至16日，Semicon China 2018在上海新国际展览中心顺利举行。
我公司展示了目前在半导体IC集成电路测试系统、Discrete测试系统和激光打标系统的最新产品。包括：国内自主研发首台超大规模集成电路测试系统QT-9000，数位模拟混合信号IC测试系统QT-8200/8100，分立器件测试系统QT-6000和QT-4100测试平台，全自动IC打印检测系统QH-APV5090等先进设备。
我公司展示了目前在半导体IC集成电路测试系统、Discrete测试系统和激光打标系统的最新产品。包括：国内自主研发首台超大规模集成电路测试系统QT-9000，数位模拟混合信号IC测试系统QT-8200/8100，分立器件测试系统QT-6000和QT-4100测试平台，全自动IC打印检测系统QH-APV5090等先进设备。
